mały|400x400px|Mikroskopia Wymuszonego Wygaszania Emisji dostarcza znacząco poprawionej rozdzielczości w stosunku do mikroskopii konfokalnej.
Mikroskopia STED, Mikroskopia Wymuszonego Wygaszania Emisji (STED z ang. STimulated Emission Depletion – Wymuszone Wygaszanie Emisji) jest jedną z technik mikroskopii wysokorozdzielczej. Wytwarzanie wysokorozdzielczych obrazów jest możliwe dzięki selektywnej dezaktywacji fluoroforów prowadzącej do minimalizacji obszaru oświetlonego w ognisku wiązki. Tym samym zwiększona zostaje maksymalna rozdzielczość danego układu mikroskopowego. W 1986 roku Wiktor Okonin z Instytutu Biofizyki w Krasnojarsku opatentował ideę STEDW.A. Okonin, Metoda badania mikrostruktury próbki, Patent SU 1374922.. Technika ta została rozwinięta przez Stefana W. Hella i Jana Wichmanna w 1994 roku, a po raz pierwszy eksperymentalnie pokazana przez Hella i Thomasa Klara w 1999 roku. Za jej opracowanie Hell został nagrodzony Nagrodą Nobla w dziedzinie Chemii w 2014 roku (patent Okonina był prawdopodobnie nieznany Hellowi i Wichmannowi w 1994 roku).