Pomysł słabych pomiarów i słabych wartości opublikowany w 1988 roku przez Yakira Aharonowa, Davida Alberta i Lwa Waidmana, jest szczególnie użyteczny przy gromadzeniu informacji na temat pre- i post-wyselekcjonowanych układów, opisanych przez dwustanowy formalizm wektorowy. Był to główny powód, dla którego Aharonow et al. wprowadzili słabe pomiary. Podczas gdy „silny”, perturbacyjny pomiar może zarówno zaburzyć pomiar post-selekcji, jak i wpłynąć na wszystkie następne pomiary, słaby pomiar nieperturbacyjny może posłużyć do zachowaniu się układu podczas jego ewolucji. Jeżeli and oznacza stany pre i post-oznaczone, wówczas słaba wartość obserwabli  jest zdefiniowana jako
Słaba wartość obserwabli staje się duża, gdy stan post-oznaczony, dąży do ortogonalności względem stanu pre-oznaczonego, W ten sposób, poprzez wybór własności obu stanów, słaba wartość operatora może być uczyniona dowolnie dużą, wzmacniając tym samym słabe efekty. Wynik słabego pomiaru może nie być więc wartością własną odpowiadającą mierzonej obserwabli. Mówi się wtedy o „wzmocnionej słabej wartości” (ang. amplified weak value) bądź „anomalnej słabej wartości” (ang.