Obserwowane prążki odpowiadają poziomicom, czyli w przypadku wypukłości lub wklęsłości obserwuje się prążki kołowe, zaś w przypadku pochylenia powierzchni prążki równoległe.
Wysokość H badanego defektu możemy wyliczyć ze wzoru:
gdzie: λ – długość fali S – ilość prążków
Interferometr Fizeau pozwala również zmierzyć nieliniowe zmiany współczynnika załamania w szklanej płytce. Można to wykonać rejestrując 3 obrazy prążkowe – interferencji każdej z powierzchni z powierzchnią wzorca oraz jeden dla promienia odbitego od dolnej powierzchni po przejściu przez płytkę. Analiza tych trzech obrazów pozwala nam na wyznaczenie niejednorodności współczynnika załamania.
Zobacz też Armand Fizeau Interferometr optyczny
Bibliografia
Fizeau