pomiar odbywa się na wolnym powietrzu (może być próżnia), można wykonywać pomiary w roztworach lub środowisku agresywnych gazów, także w podwyższonych temperaturach, również w trakcie przebiegających reakcji chemicznych Mikroskop sił bocznych (, LFM) – reaguje na siły van der Waalsa itp., ale także na lepkość powierzchni (czteropolowy czujnik światła lasera – ruch góra-dół i prawo-lewo) Mikroskop siły tarcia (, FFM) – zbliżony do LFM Skaningowy mikroskop fazowy (, PDM, pozwala odróżniać powierzchnie elastyczne i nieelastyczne poprzez wykrywanie przesunięcia fazowego pomiędzy impulsem wymuszającym a odpowiedzią układu) Mikroskopia z modulacją siły (, FFM, podobnie jak PDM) Mikroskop siły elektrostatycznej () – pomiar ładunku/potencjału powierzchni próbki (np. badanie układów scalonych w trakcie ich działania) Mikroskop sił magnetycznych (, MFM) – wykrywanie domen magnetycznych i ich namagnesowania (np.