Ponieważ do tej pory nie było przyrządów, które by to umożliwiały, Binnig i Rohrer skonstruowali w 1982 roku swój własny przyrząd – skaningowy mikroskop tunelowy. Obaj naukowcy dokonali swojego wynalazku w Szwajcarii, podczas prac w laboratoriach firmy IBM, mieszczących się w Zurychu, za co w roku 1986 otrzymali Nagrodę Nobla w dziedzinie fizyki. W tym samym roku G. Binnig, C.F. Quate i Ch. Gerber skonstruowali mikroskop sił atomowych (ang. Atomic Force Microscope – AFM)The Scanning Tunneling Microscope, informacja na stronie nobelprize.org..
Możliwości STM w zakresie obrazowania zapoczątkowały burzliwy rozwój nowej dziedziny zwanej mikroskopią sond skanujących (inna nazwa to skaningowa mikroskopia bliskich oddziaływań). Skonstruowano różne odmiany mikroskopów STM i AFM, spośród których najbardziej znane to: mikroskop sił tarcia (ang. Friction Force Microscope – FFM), mikroskop optyczny bliskiego pola (ang. Scanning Near-field Optical Microscope – SNOM lub NSOM), mikroskop sił magnetycznych (ang. Magnetic Force Microscope – MFM) i mikroskop sił elektrostatycznych (ang. Electrostatic Force Microscope – EFM).